심우주 탐사선 CCD/CMOS 센서의 고에너지 양성자(Proton) 변위 손상 및 전하 전이 효율(CTE) 열화 복원 모델링
1. 심우주 방사선 환경과 고에너지 양성자에 의한 변위 손상(DD) 메커니즘 태양계 외곽을 탐사하는 심우주 탐사선이나 지구 자기장 바깥의 궤도를 도는 관측 위성들은 지구 자기권의 보호를 받지 못하고 가혹한 방사선 환경에 노출됩니다. 이때 우주 광학 탑재체의 CCD 및 CMOS 이미지 센서를 위협하는 가장 치명적인 요인은 바로 태양 양성자 이벤트(SPE)와 은하 우주선(GCR)에서 기인하는 고에너지 양성자(Proton)입니다. 감지기 픽셀을 … 더 읽기